Cypress Semiconductor CY14B256K Specifikace Strana 15

  • Stažení
  • Přidat do mých příruček
  • Tisk
  • Strana
    / 24
  • Tabulka s obsahem
  • KNIHY
  • Hodnocené. / 5. Na základě hodnocení zákazníků
Zobrazit stránku 14
CY14B256K
Document Number: 001-06431 Rev. *G Page 15 of 24
Capacitance
These parameters are guaranteed but not tested.
Parameter Description Test Conditions Max Unit
C
IN
Input Capacitance T
A
= 25°C, f = 1 MHz,
V
CC
= 0 to 3.0 V
7pF
C
OUT
Output Capacitance 7 pF
Thermal Resistance
These parameters are guaranteed but not tested.
Parameter Description Test Conditions 48-SSOP Unit
Θ
JA
Thermal Resistance
(Junction to Ambient)
Test conditions follow standard test methods and
procedures for measuring thermal impedance, in
accordance with EIA / JESD51.
TBD °C/W
Θ
JC
Thermal Resistance
(Junction to Case)
TBD °C/W
AC Test Loads
AC Test Conditions
3.0V
Output
5 pF
R1 577Ω
R2
789Ω
3.0V
Output
30 pF
R1 577Ω
R2
789Ω
For Tri-state Specs
Input Pulse Levels.................................................. 0 V to 3 V
Input Rise and Fall Times (10% - 90%) ....................... <
5 ns
Input and Output Timing Reference Levels....................1.5 V
[+] Feedback
Zobrazit stránku 14
1 2 ... 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 ... 23 24

Komentáře k této Příručce

Žádné komentáře